A machine learning approach for automated fine-tuning of semiconductor spin qubits
Teske, Julian David (Corresponding author); Humpohl, Simon Sebastian; Otten, René; Bethke, Patrick; Cerfontaine, Pascal; Dedden, Jonas; Ludwig, Arne; Wieck, Andreas D.; Bluhm, Jörg (Corresponding author)
Melville, NY : American Inst. of Physics (2019)
Fachzeitschriftenartikel
In: Applied physics letters
Band: 114
Heft: 13
Seite(n)/Artikel-Nr.: 133102
Einrichtungen
- Fachgruppe Physik [130000]
- Lehrstuhl für Experimentalphysik und II. Physikalisches Institut [132210]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1063/1.5088412
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2019-03977