Universal Digital Quantum Simulation with Trapped Ions

Lanyon, B. P.; Hempel, C.; Nigg, D.; Müller, Markus; Gerritsma, R.; Zahringer, F.; Schindler, P.; Barreiro, J. T.; Rambach, M.; Kirchmair, G.; Hennrich, M.; Zoller, P.; Blatt, R.; Roos, C. F.

Washington, DC : American Association for the Advancement of Science (2011)
Fachzeitschriftenartikel

In: Science
Band: 334
Heft: 6052
Seite(n)/Artikel-Nr.: 57-61

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